Mikrofokumale Röntgenquelle

Mit 40 Grad Strahlungswinkel und 90 kV, inspiziert auf Hohlräume, Shorts und Lötbrücke.

Beschreibung

Produktbeschreibung

DH - KV9040 ist eine Micro - Fokus X - Strahlquelle, die in eine einzelne Einheit integriert ist, die von Dinghua unabhängig entwickelt und entworfen wurde. Mit einer maximalen Spannung von 90 kV und einer Bildauflösung von 5–10 μm wird es hauptsächlich für die Inspektion der elektronischen Industrie wie 4-Ebenen-Verpackungen, 3C-Batterie-Tests, BGA-Verpackungen, LED und PCB-Inspektion verwendet.

Produktfunktion

*‌Integriertes Design‌ Für einfache Demontage und Installation

‌* 5–10 μm BildauflösungUnd9,5 mm FOD‌, geeignet für hohe - Auflösung, hoch - Vergrößerungsbildersysteme

*Unterstützt ‌Offline/Online -Betrieb‌ ideal für stabile lange - Term Exposition

*‌ Industrie - Standard-RS-232C-Kommunikationsprotokoll‌ Für eine einfache Integration

Produktparameter

X - Strahlröhrendröhre Spannung einstellbarer Bereich (KV)	0~90
X - Strahlrohrstrom einstellbarer Bereich (μA)	0~200
Maximale Rohrleistung (W)	8
Bildauflösung* (μm)	5/10
X - Strahlungswinkel	40 Grad
Minimaler fokaler/objektiver Abstand (FOD) (mm)	9.5
Gewicht (kg)	≈10
Datenübertragung	RS-232C
Eingangsspannung (v)	24
Stromverbrauch (W)	＜96W
Betriebstemperatur (Grad)	10~40
Lagertemperatur (Grad)	0~50
Betriebsfeuchtigkeit (%RH)	20~85
Speicherfeuchtigkeit (%RH)	20~85
EMC Compliance	IEC/EN 61326-1
Anwendbarer Betriebssystemversion	Windows 7, 10 & 11

Produkte Illustration

Unsere Mikrofokus x - Strahlquelle ist speziell für die Präzisionsprüfung für hoche Elektronikkomponenten und -Antsgruppen ausgestattet.
Mit einer maximalen Rohrspannung von 90 kV und Rohrstrom von bis zu 200 µA liefert sie klare, hoch - Auflösungsbilder zum Erkennen interner Defekte in Leiterplatten, Halbleitern und anderen dichten Materialien. Das System arbeitet mit einer 24 -V -Eingangsspannung und stellt eine stabile und effiziente Leistung in industriellen Umgebungen sicher.
Für Mikrofokusanwendungen optimiert, bietet diese X {- Strahlquelle scharfe Bilder mit minimaler Verzerrung, wodurch sie besonders für die Lötverbindungsinspektion, die interne Risserkennung und die Identifizierung versteckter Strukturdefekte geeignet ist. Das kompakte Design ermöglicht eine einfache Integration in PCB -Inspektionssysteme und die stabile Ausgabe. Die Kombination aus 90 -kV -Penetrationsleistung und feiner Mikrofokus -Spotgröße verkürzt die Inspektionszeit effektiv.

Unser Mikrofokus X - Strahlquelle (Betriebsspannung 40–90 kV) ist ein vielseitiges Tool für hohe - Präzisionsprüfung von elektronischen Komponenten und Metallteilen. Es wird in der PCB- und Motherboard -Analyse sowie in der - Casting -Inspektion für Handy-, Automobil- und Luft- und Raumfahrtindustrien weit verbreitet. Auf der rechten Seite ist ein Beispiel für Die {- Teile aus einem bekannten Mobiltelefonhersteller. Mit diesem System können Defekte wie Risse, Poren, Schrumpfhöhlen, ungleichmäßige Materialverteilung und interne strukturelle Mängel klar identifiziert werden.

Die Quelle liefert einen maximalen Rohrstrom von 200 µA, der durch eine stabile 24 -V -Eingangsspannung unterstützt wird, um selbst in anspruchsvollen Umgebungen einen zuverlässigen Betrieb zu gewährleisten. Sein Mikrofokusdesign erzeugt scharfe Verzerrungen - freie Bilder, sodass die Ingenieure subtile strukturelle Unterschiede genau analysieren können. Bei elektronischen Anwendungen ist es besonders effektiv bei der Lötverbindungsinspektion, der BGA -Chip -Analyse und der Halbleiterverpackung. Bei Metallteilen ermöglicht seine starke Penetration eine tiefe BeobachtungohneKompromissBildklarheit.

Mit seinem kompakten Design ist die 40–90 kV x - Strahlquelle leicht in Inspektionssysteme zu integrieren und bietet Herstellern eine leistungsstarke Lösung für Qualitätskontrolle, F & E und Fehleranalyse. Durch die Kombination feiner Fokusdetails mit starker Penetration verbessert es die Inspektionszuverlässigkeit und verkürzt die Inspektionszeit erheblich.